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半导体测试设备监控系统
发布日期: 2013-10-22     浏览次数: 112

技术成果简介

    现代电子制造业的发展要求企业各部门,车间各环节实现网络化的统一管理,尽可能实现信息共享,相互协同,快速响应。本研究针对某半导体测试分厂的生产效率停滞不前的现状,提出了产生问题的关键,并以.NET Remoting 、数据库等技术开发了一套生产监控系统,解决了该厂生产效率瓶颈的现状,提高了测试分厂的生产能力。
  本系统采用三层客户机/服务器(C/S)架构。三层客户机/服务器体系结构通常指表现层,逻辑层和数据层。其中表现层,给用户提供一个可视化界面;逻辑层,是表现层和数据层的桥梁,它响应界面层的用户请求,执行任务并从数据层获取数据,然后将必要的数据传送给表现层;数据层,主要包括数据层定义、维护数据的完整性、安全性,它响应逻辑层的请求,访问数据。

 

 

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